Die Erweiterung der bildgebenden Infrarot-Messtechnik durch die infrarot-optische Spektralinformation eines ausgewahlten Werkstoffes stellt einen neuen wesentlichen Schritt dar – sowohl fur die zuverlassige Materialcharakterisierung, als auch fur die Erkennung von Fehlern auf Oberflachen und in Volumina. Insbesondere Kunststoffe und Keramiken zeigen eine ausgepragte Wellenlangenabhangigkeit der Emissivitat im MWIR- und LWIR-Bereich. Eine Nutzungsmoglichkeit ist, den Einfluss von Reflexionen, Oberflachenverschmutzungen und stark variierenden Beschichtungen zum Beispiel bei Schweissverbindungen oder Strukturverklebungen zu eliminieren. Der jeweilige Spektralbereich kann mit Hilfe von dielektrischen MWIR-Filtern exakt ausgewahlt werden. Allerdings mussen im Gegensatz zu einer Dualband-IR-Kamera die Messungen seriell durchgefuhrt werden, dadurch dass nacheinander Bildsequenzen mit verschiedenen Filtern aufgenommen werden und nachtraglich miteinander verarbeitet werden. In diesem Zusammenhang mussen folgende Probleme gelost werden: Filterausrichtung und Positionierbarkeit, Objektiveinfluss, Kameratemperaturstabilitat. Des Weiteren soll anhand der Spektren ausgewahlter Materialien der Weg zur spektral auflosenden Thermografie erlautert werden. Durch die Fusion einer solchen "Farb-Infrarotkamera" mit anderen Techniken der aktiven Thermografie kann man ein schnelles, bildgebendes Verfahren mit neuartigen Prufeigenschaften fur die Produktion und die In-Service-Prufung bereitstellen.
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