机译:[SUS304ULC / Ta / Zr爆炸桥接头的氢脆研究系列]“ Ta / Zr接头界面的氢脆开裂特征和Zr母材的氢脆机理”“ Ta / Zr接头界面的氢脆”各种影响结晶的因素“” Ta / Z在水下抛光过程中“界面处的氢脆破裂现象和氢脆化机理”“ Ta / Zr界面处氢扩散和氢化物沉淀的计算机模拟”“ Ta防止Zr / Zr键合界面氢脆的施工准则的建议”
机译:使用透明X射线测井方法原位观察Fe2Al5金属间化合物的结晶和生长行为
机译:(J047)马氏体界面运动的释放过程和铁合金的贝氏体生长
机译:Mg / Cu超声波键合界面金属间化合物的生长过程
机译:椭圆偏振光谱法研究3d金属薄膜的生长过程和界面
机译:3.通过铜在锑结晶膜中的扩散来生长金属间化合物(Cu_2Sb)晶体(立命馆大学理工学研究科,物理学系,硕士学位/摘要(1990年))