Asynchronous circuits; Petri-Net model; Statistical static timing analysis; process variation;
机译:异步电路的过程变化感知性能分析
机译:动态无源宏模型在射频/毫米波电路中工艺变化的统计分析
机译:考虑模内工艺变化的纳米级电路全芯片统计时序和泄漏分析的统一方法
机译:考虑过程变化的异步电路统计静态性能分析
机译:针对VLSI电路的非高斯变化源的统计静态时序分析中的最大操作。
机译:数组处理中多次检测的MDL枚举性能的统计分析
机译:VLsI电路非〜高斯变分源的统计静态时序分析中的最大运算
机译:异步电路性能分析与优化的一般方法。