Built-in Self-Test (BIST); test pattern generator; variable-length ring counter;
机译:基于环对计数器的ATPG用于低过渡试验模式生成
机译:低功耗可编程伪随机测试码型发生器上的3月测试压缩技术
机译:LPTest:灵活的低功耗测试码型发生器
机译:使用可变长度环形计数器的新型低功耗测试码型发生器
机译:橡胶O形圈的动态测试和性能及其在低强度材料的软滴重量测试中的应用
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:基于低过渡LFSR的低功耗测试码型发生器设计,用于高故障覆盖率分析