一种基于测试模式的MCU低功耗测量方法

摘要

通过对现有测试模式电路的改进,阐述在测试模式下实现功能模式相同的低功耗场景,达到测量MCU芯片最低功耗的目的。该方法简单快捷,降低了对测试基台的要求,节省了测试时间。