MIS-structure; quasistatic C-V-characteristics; surface potential; extra thin oxide; degenerated and quantum electron gas;
机译:从金属-绝缘体-半导体结构的电压电容特性无模型确定半导体表面电势上累积和反转半导体层中电荷密度的依赖性
机译:从半导体表面耗尽区的电压电容分析数据确定金属氧化物半导体结构的电物理特性
机译:基于耗尽电容的表面电势准确评估SiC金属氧化物半导体结构中的界面态密度
机译:新方法在确定耗尽区半导体表面电位电压分析的依次依赖性的依赖性
机译:使用离轴电子全息图确定半导体纳米结构的静电势和电荷分布。
机译:通过选择性氟化提高有机半导体中的电荷迁移率:一种基于量子力学观点的设计方法
机译:基于耗尽电容的表面电势准确评估SiC金属氧化物半导体结构中的界面态密度
机译:用电容电压测量法计算半导体耗尽区中的载流子