Sicherung der Zuverlassigkeit von integrierten Leistungselektroniken

摘要

Die Leistungsdichte Integrierter Leistungselektroniken nimmt standig zu. Das hat zur Folge, dass Komponenten immer heisser werden, was wiederum die Zuverlassigkeit beeintrachtigt. Zudem wird es schwieriger beschleunigte Zuverlassigkeitstests durchzufuhren. Es wird ein Konzept fur die Lebensdauerprognose vorgestellt, welches auf der Simulation der Rissfortschrittsgeschwindigkeit basiert. Eingaben fur die Simulation sind: Materialeigenschaften fur den geforderten Temperaturbereich, Geometrie und Belastungsprofil (Mission Profil). Das Konzept wird an Hand einer PbSnAg Lotstelle erlautert.