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FITTest BENCH06: A New Set of Benchmark Circuits Reflecting Testability Properties

机译：Fittest Bench06：一种新的基准电路，反映了可测试性能

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《IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and systems》|2006年||共5页
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Pecenka T.; Kotasek Z.; Sekanina L.;
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正文语种
中图分类自动化技术、计算机技术;
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