【24h】

蛍光X線膜厚計へのモンテカルロ法の応用

机译:Monte Carlo法在荧光X射线膜厚度计中的应用

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摘要

本研究では、MC法の定量分析で使用する光子のエネルギー分布を予め分析前に導出し、それを元にLookup tableを作成し、それを分析に応用することで、高精度かつ短時間に定量分析を行うことが可能になった。
机译:在该研究中,在分析之前预先导出MC方法的定量分析中使用的光子的能量分布,基于它创建查找表,并通过将其应用于分析,在高精度和短时间内量化。它可以分析。

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