首页> 中文期刊>应用科学学报 >应用Monte Carlo法的X射线成像

应用Monte Carlo法的X射线成像

     

摘要

提出了一种新的X射线成像仿真方法用于模拟光子散射过程.采用射线跟踪快速算法形成初级投影,并记录射线历经物体的属性.沿射线方向根据光子散射概率选取光子散射点,用Monte Carlo法仿真光子散射,忽略无效的光子仿真计算.实验结果表明,该算法与传统Monte Carlo仿真相比,可以在数分钟内达到相近的仿真效果.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号