曲ば損傷をうけたBi2223超伝導複合テープの臨界電流分布シミュレーション

摘要

Bi2223フィラメントがAgに埋め込まれたコアの形状を組み込hだ臨界電流一損傷先端位置の関係を表現するモカレとテープ中のフィラメントの損傷ひずみパラメータ（ε_f-ε_r: ε_fは残留ひずみゼロでの試料長手方向の引張破壊ひずみ，らは同方向の残留ひずみ）の分布を組み合わせると，規格化臨界電流（I_c/I_(c0):I_(c0)は曲げひずみゼロでの臨界電鞠の分布が記述できることを示してきた（Supercond. Sci．Technol.22(2009)095012，J．Appl.Phys.106（2009）103916）。本研究ではこの手法とモンテカルロ法を組み合わせて，臨界電流点そのものの分布記述を試みた。