crystalline lattice parameter; heterostructure; film; substrate; epitaxial layer; solid solution; diffraction maximum; the width of forbidden zone; the tensor of stresses;
机译:X射线衍射法表征Si / Si {sub}(1-x)Ge {sub} x / Si异质结构中的量子阱
机译:用于复杂薄层异质结构的结构研究的高分辨率X射线衍射仪和X射线反射仪技术:基于傅立叶变换的过程与仿真软件之间的互补性
机译:基于Ⅱ型InAs / InAs_(1-x)Sb_x / AlAs_(1-x)Sb_x超晶格的高性能短波红外光电探测器
机译:在X射线衍射碱基碱基上的INAS_(1-X)SB_X异质结构中的间隙相互作用的研究
机译:II-VI DMS异质结构的磁光研究:锌(1-xy)锰(x)镉(y)硒/锌(1-x)锰(x)硒单量子阱,锌(1-x)镉( x)硒/锌(1-y)锰(y)硒I型和硒化镉/碲化锌的II型超晶格。
机译:角分辨X射线光电子能谱研究Al2O3封端的GaN / AlGaN / GaN异质结构的表面极化
机译:p型二维孔道Landau水平的光致发光研究 单个al_ {x} Ga_ {1-x} as / Gaas异质结构
机译:用X射线衍射和光致发光测量法测定In(x)Ga(1-x)as / Gaas异质结中的临界厚度