XRD法による微細結晶粒材の曲げ加工における結晶方位の解析

摘要

XRD解析の特徴として，マクロな集合組織や変形集合組織を評価できる点にある．また，SEM-EBSD解析の特徴は微細的な場所の情報が得られ，XRD法に比べて測定時間が短いという点にある．したがって，XRD解析とSEM-EBSD解析を使用状況応じて使い分けることにより，それぞれの利点を生かすような最適な集合組織の制御を行うことが可能である．