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【24h】

ボルタンメトリーによる錫酸化皮膜の状態別評価

机译:用伏安法调评氧化锡膜

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摘要

錫は比較的耐食性に優れ,電子部品の端子材料のめっき物として良く用いられる.ただし環境条件によっては錫酸化物(SnO,SnO_2)が生成しうる.両酸化物の諸性質が異なるため,腐食解析では状態別分析が重要と考えられる.現在でも表面機器分析法(XPS,XRDなど)による評価は難しく,これまではホウ酸緩衝液を用いたCP(Chronopotentiometry)が主に定量分析に適用されてきた.しかしながら従来技術では,依然として定性面で問題がある.そこで我々は,新たに電気化学的な分析手法を開発した結果,アンモニア緩衝液を用いたボルタンメトリー(Voltammetry)がより望ましいと結論付けた.
机译:锡具有相对耐腐蚀性的优异,并且通常用作电子元件的终端材料的电镀物体。然而,根据环境条件,可以形成氧化锡(SnO 2,SnO_2)。由于两种氧化物的性质不同,所以在腐蚀分析中认为状态分析很重要。目前,通过表面设备分析(如XPS,XRD等)的评估难以困难,到目前为止,使用硼酸盐缓冲液的Cp(时计量测量法)主要应用于定量分析。然而,在现有技术中,定性表面仍然存在问题。因此,我们得出结论,由于开发新的电化学分析技术,使用氨缓冲液的伏安法(伏安法)更为希望。

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