Remeasurement of the (220) lattice spacing of silicon

机译：硅（220）晶格间距的重新测量

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A need arose for a reduction of the present relative uncertainty in the measurement of the silicon lattice spacing down to 10{sup}(-9). This article describes our advances towards this goal.

机译：需要在测量下移到10 {sup}（ - 9）中的测量中的相对不确定性的减少。本文介绍了我们对此目标的进步。

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来源
《Conference on Percision Electromagnetic Measurements》|2000年||共2页
会议地点
作者
G. Cavagnero; G. Durando; G. Mana; E. Massa; G. Zosi;
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作者单位

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正文语种
中图分类 TM937-53;
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