赤外線2次元ロックインアンプによるマイクロストリップライン近傍の電界強度分布測定

摘要

校正用アンテナなどの波源近傍の電界強度と幕温度変化の関係を求めることによって，本装置で観測された幕の温度変化分布を電界強度分布に校正することも可能である。本装置を用いれば電磁界解析に時間を要する高密度実装電子回路基板などであっても，EMC対策に有用な近傍電磁界強度の可視化が容易であると考えられる。そこで，本装置による基板近傍電磁界強度測定の有効性を示すために，試作したマイクロストリップライン（MSL）近傍の電界強度分布測定を試みた。