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【24h】

開発した迅速均一温度サイクル試験装置における実用電子部品の温度分布と時間短縮効果

机译:实用电子元件在快速均匀温度循环试验设备中的温度分布及时间缩短效果

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摘要

現周の温度サイクル試験装置では冷熱速度を上げるために,循環するエア流量を増やす,エアと供試体の温度差を大きくする等の必要があり,これらは温度分布を不均一にする要因になる.これに対し開発システムでは発想を変え,少量のエアを効率よく試料周りに循環させることで,無理なく均熱性を保ったまま迅速な冷熱を可能にしている.本報告では熱容量が大きい実用電子部品を例に,温度サイクル試験を行った時の温度分布を実測し,開発法適用時の均熱性と時間短縮効果を明確にする.
机译:当前温度循环测试装置要求循环空气流速,增加空气和试样之间的温差以增加冷却速度,这导致温度分布不均匀。另一方面,在开发系统中,改变了思想,并且少量空气在样品周围有效地循环,从而可以在保持热均匀性的同时快速冷热。在本报告中,作为具有大热容量的实际电子元件的实际电子元件的示例测量时的温度分布,并且阐明了显影方法应用时的热均匀性和缩短效果。

著录项

  • 来源
  • 会议地点
  • 作者

    生野元;

  • 作者单位
  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类 TB3-53;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-21 07:31:46

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