机译:Cu(Ti)/ Low-k样品中自形成的Ti-Rich界面层生长的Rutherford背散射光谱分析
机译:Cu(Ti)/ Low-k样品中自形成的Ti-Rich界面层生长的Rutherford背散射光谱分析
机译:Cu(Ti)/ Low-k样品中自形成的Ti-Rich界面层的表征
机译:Rutherford在Cu(Ti)/低k样品中的自成形Ti界面层的生长速率和激活能的光谱分析
机译:基于质谱的方法和样品制备策略的发展,用于分析环境中内分泌干扰的农药,激素,金属和生物标志物
机译:用于进一步缩小超大型集成器件-Cu互连的等离子增强化学气相沉积SiCH膜的低k覆盖层的材料设计
机译:Cu(Ti)/ Low-k样品中自形成的Ti-Rich界面层生长的Rutherford背散射光谱分析
机译:使用组合弹性反冲检测和卢瑟福/增强卢瑟福背散射光谱法进行材料分析