机译:垂直扫描干涉法(VSI)和原子力显微镜(AFM)用于表征膜表面形貌的比较
机译:使用垂直扫描干涉法(VSI)量化微生物附着与矿物表面动力学之间的关系
机译:寻找微生物/矿物质的界面:使用垂直扫描干涉法定量分析金属表面上的细菌
机译:溶解硼硅酸盐玻璃垂直扫描干涉测量结果(VSI)的结果:可变表面特征和全局表面撤退的证据
机译:可变温度扫描隧道显微镜研究半导体和金属表面上原子和分子水平的表面现象。
机译:垂直扫描干涉法中双波长白色LED的新型表面恢复算法(VSI)
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机译:使用光学干涉法和扫描电子显微镜检查化学粗糙铜表面:建立表面形态和可焊性之间的相关性