in-Situ Diagnostik bei Verfahren des thermischen Beschichtens - Particle Flux imaging (PFI)

摘要

Die Optimierung von Verfahren des thermischen Beschichtens erfolgt meist durch empirische Methoden in Verbindung mit aufwendigen Messungen [1-4]. Als nachteilig erweisen sich hierbei der zum Teil erhebliche Zeitaufwand, die teure, empfindliche und komplizierte Messtechnik und der Bedarf an hochqualifiziertem Bedienungspersonal. Vor diesem Hintergrund war die Entwicklung eines kostengunstigen, robusten und sowohl im Aufbau wie auch in der Bedienung einfachen Verfahrens wunschenswert. Das Verfahren soll mit einem gunstigen Nutzen/Aufwand - Verhaltnis die Optimierung thermischer Spritzverfahren unterstutzen und im industriellen Anwendungsfall eine Qualitatssicherung und Qualitatskontrolle ermoglichen. Das mit dieser Zielsetzung entwickelte Particle Flux Imaging (PFI) Diagnostikverfahren wird im folgenden beschrieben.