asynchronous circuits; automatic test pattern generation; logic testing; circuit feedback; clocks; automatic scan insertion; automatic pattern generation; asynchronous circuits; scan latches; global circuit feedback paths; state-storing gates; LSSD clocking scheme; SOC interconnection fabric; ATPG method; area overhead testing;
机译:一种用于异步顺序数字电路的新型自动测试码型发生器
机译:通过多次扫描电子显微镜图像自动识别半导体晶圆上的电路图案
机译:异步电路基于初始化的测试模式生成
机译:异步电路的自动扫描插入和模式生成
机译:自动测试码型发生器,用于使用有限的扫描操作进行全扫描顺序电路。
机译:自动数量化树芽格局从CT扫描
机译:异步电路的自动扫描插入和模式生成
机译:同步时序电路的自动测试模式生成