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谈恩民; 上海交通大学电子信息与电气工程学院; 叶宏; 张勇;
中国电子学会;
中国仪器仪表学会;
中国计量测试学会;
内建自测试; 逻辑电路测试; BIST结构; CUT; 集成电路;
机译:基于扫描的BIST的RTL VHDL规范中的可测性分析和测试点插入
机译:使用VHDL的VLSI电路实现BIST结构
机译:使用VHDL的BIST架构实现UART
机译:使用VHDL自动插入BIST硬件
机译:基于使用结构转换测试并插入扫描寄存器的自动验证方法。
机译:基于PWL功能的多涡旋混沌振荡器的FPGA实现的VHDL描述
机译:用于逻辑电路仿真的数字弹道CNT模型的VHDL-ams实现
机译:基于sDR应用的maTLaB和simulink中Gps相关器结构的开发和实现:标准Gps相关器结构的实现(基线)mIT Quicksynch稀疏算法的实现并行循环相关器结构的开发和实现。
机译:将基于解释器的TPM附加到互连的基于多进程的基于编译器的TPM集群中,以实现全局事务
机译:将基于解释器的TPM连接到基于互连的多进程基于编译器的TPMS集群中以实现全球交易
机译:递归vhdl编译器和用于设计逻辑电路的方法
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