dynamic stress; hot carrier effect; low temperature polycrystalline silicon (LTPS); non-equilibrium PN junction; thin-film transistor (TFT);
机译:脉冲栅极电压应力下a-InGaZnO薄膜晶体管的动态退化
机译:磷剂量损失对n型多Si结薄膜晶体管电容电压特性的影响
机译:晶粒尺寸对多晶硅薄膜晶体管栅电压摆幅和阈值电压的影响
机译:在断态栅极脉冲电压下,n型多晶硅薄膜晶体管中由HC引起的动态退化
机译:在颅脑外伤中的细胞内钙动力学:了解N型电压门控钙通道在皮层神经元拉伸诱导的钙升高中的作用。
机译:使用n型Al:ZnO和p型NiO薄膜晶体管的三维堆叠互补薄膜晶体管
机译:超低压空气稳定的聚电解质栅n型有机薄膜晶体管