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Data Mining mit dem DataFinder Server Edition und TDMS

机译:数据挖掘与DataFinder服务器版和TDMS

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摘要

Die Firma KETEK produziert Silicon-Drift-Detektoren (SDDs), die nahe der Grenze des physikalisch Machbaren operieren. Diese Bauelemente werden im Laufe des Produktionsprozesses in unterschiedlichen Fertigungszustanden gepruft und samtliche Messergebnisse als TDMS-Dateien auf einem Data-Finder Server gespeichert. Es existiert also eine grosse Menge unterschiedlich strukturierter Messdaten, in denen wertvolle Informationen fur die Qualitatssicherung verborgen sind. Mithilfe von NI DIAdem und NI LabVIEW sollen Datenstande zur Nachverfolgung gesichert und Korrelationen ermittelt werden. Dies geschieht auf unterschiedliche Arten: SPC-Auswertungen bestimmter Produktionsschritte und Prufmittel-Kalibriermessungen in NI DIAdem, Ermittlung und Bewertung der Veranderung von Parametern zwischen unterschiedlichen Prozessschritten in NI LabVIEW-Prufstandssoftware. Es hat sich bewahrt, auch die Daten von Prufmitteln externer Hersteller, insbesondere von Prufmitteln, die von Endkunden zur Verfugung gestellt werden, in die bestehenden TDMS-Strukturen aufzunehmen, um sie auf eine einheitliche Weise programmatisch greifbar zu machen. Die strukturierte Erfassung und Ablage einer Vielzahl von Messergebnissen in Kombination mit den Filter-Moglichkeiten des DataFinder Servers fuhren hier immer wieder zu neuen Erkenntnissen uber Zusammenhange zur Ermittlung von Fehler- und Ausfallursachen sowie zur Qualitatssicherung allgemein.
机译:Ketek产生硅漂移检测器(SDDS),其邻近物理可行的限制操作。这些部件在生产过程中的在不同的制造和残余的测量结果的过程中弯曲,TDMS文件存储在数据搜索服务器上。因此,存在很大的量,其中有价值的信息被隐藏的质量保证不同结构化测量数据。与NI的DIAdem和NI LabVIEW中,用于跟踪数据屏幕应该固定和相关性被确定。某些生产步骤SPC评估和NI DIAdem的,在NI LabVIEW中打样软件不同的工艺步骤之间的参数变化的测定和评估测试设备校准测量:这是用不同的方式来完成。它也被保留下来,包括外部厂商的数据,尤其是测试基金,这是由最终客户提供的,在现有的TDMS结构,使它们以统一的方式编程有形的。多种组合测量结果与数据搜索服务器的过滤可能性结构检测和存储一次又一次搬到这里来了新的见解克服了确定错误和失败的原因,以及对一般质量保证。

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