首页> 外文会议>Informationstechnische Gesellschaft/Gesellschaftess- und Automatisierungstechnik-Fachtagung Sensoren und Messsysteme >Herausforderungen und Losungsansatze fur die fertigungsnahe Qualitatskontrolle mittels optischer 3D-Messtechnik
【24h】

Herausforderungen und Losungsansatze fur die fertigungsnahe Qualitatskontrolle mittels optischer 3D-Messtechnik

机译:通过光学3D测量技术对生产相关质量控制的挑战和解决方法

获取原文

摘要

Die Fortschritte im Bereich der optischen Oberflachenmesstechnik haben vielfach dazu gefuhrt, dass optische Sensoren den Sprung aus dem Labor in fertigungsnahe Anwendungen geschafft haben und taktile Sensoren immer haufiger ablosen. Durch die beruhrungslose Oberflachenabtastung konnen auch empfindliche Oberflachen ohne Beeintrachtigung hochgenau erfasst werden und die flachenhafte Datenaufnahme ermoglicht neue Kriterien zur Objektcharakterisierung bei kurzen Taktzeiten. Neben der eigentlichen Messzeit ist die Gesamtzeit von der Bearbeitung eines Werkstucks uber dessen messtechnische Erfassung bis zur Nutzung der Informationen in der Fertigungslinie entscheidend. Nur durch kurze Informationswege kann eine fruhzeitige Korrektur im Prozess vorgenommen werden. Um dies zu gewahrleisten, muss die Messung so nah wie moglich am Fertigungsprozess erfolgen. Dadurch sind Einwirkungen aus den Umgebungsbedingungen nahe am Fertigungsprozess grosser als unter kontrollierten Laborbedingungen. Diese Rahmenbedingungen wirken sich zusammen mit zunehmendem Integrationsgrad der Sensorik auch auf die Anforderungen an die Sensorparameter (z.B. Sensorpositionierung, Arbeitsabstand und Bauraum) aus. Im folgenden Beitrag werden am Beispiel zweier unterschiedlicher Implementierungen fur die prozessintegrierte Sensorik die Anforderungen und Losungsansatze vorgestellt und diskutiert.
机译:光学表面测量技术领域的进展往往导致光学传感器已经从实验室中飞跃了围绕的应用,并且触觉传感器总是远程耗尽。由于浅表表面采样,也可以高精度地检测敏感表面,并且平面数据采集允许具有短循环时间的对象表征的新标准。除了实际测量时间之外,总时间对于在其计量捕获到生产线中的信息中的计量捕获时,总时间是至关重要的。只有短信渠道只能在该过程中进行预更校正。为了保持这一点,测量必须尽可能接近制造过程。结果,在受控实验室条件下,环境条件靠近大幅下的环境条件的影响。这些框架以及传感器的集成程度增加,也影响传感器参数的要求(例如,传感器定位,工作距离和空间)。在下面的文章中,使用两个不同实现的例子来提出和讨论的要求和解决方法,用于过程集成传感器技术。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号