首页> 外文会议>Spanish Conference on ELectron Devices >Improvement of the k.p Approach for Describing Silicon Quantum Dots
【24h】

Improvement of the k.p Approach for Describing Silicon Quantum Dots

机译:用于描述硅量子点的K.P方法的改进

获取原文

摘要

We present in this work a correction to the Effective Mass Approach based on atomistic calculations for studies on hole confinement in silicon quantum dots. The idea is to connect two different frameworks such as Tight-Binding and k.p in order to take advantage of the computational efficiency of the latter. Further, this work would enable to gain an insight into the causes of difference between both approaches.
机译:我们在这方面展示了基于原子计算的有效质量方法的校正,以了解硅量子点的孔限制研究。该想法是连接两个不同的框架,如紧密绑定和K.P,以利用后者的计算效率。此外,这项工作将使能够深入了解两种方法之间的差异的原因。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号