机译:使用俄歇电子能谱深度分布图评估金属薄膜中锌和铝的氧化态
机译:俄歇电子能谱法表征硅和钼衬底上氮化硅薄膜的特性和深度分布
机译:利用俄歇电子能谱深度剖面评估金属薄膜中镁和钙的氧化态
机译:附加效应对边界膜形成:螺旋钻电子光谱的深度剖面 - (PPT)
机译:使用X射线光电子能谱,俄歇电子能谱,电子能量损失能谱和低能电子衍射来表征氧化铝的电子和几何结构。
机译:通过俄歇电子能谱和X射线光电子能谱定量测定表面成分的有效衰减长度
机译:通过螺旋钻电子光谱阳极氧化铝膜的深度轮廓测量。
机译:aUGER电子和X射线光电子能谱的动力学和深度剖析应用