机译:具有高k /金属栅结构的金属氧化物半导体器件中高k / SiO_2界面处偶极子形成的物理起源
机译:使用高K /高K双层界面的原子层沉积进行金属/ III-V有效势垒高度调整
机译:高k / SiO_2界面处偶极子形成导致高k金属氧化物半导体器件的平带电压漂移的实验证据
机译:金属/高k接口的物理学
机译:基于future的多金属高k栅极电介质的电气和材料特性,可用于未来的规模化CMOS技术:物理,可靠性和工艺开发。
机译:利用超薄高k栅极介电层增强黑磷晶体管载流子传输的接口工程
机译:接口陷阱电荷对无线双金属栅极高k门的影响纳米线FET基于Alzheimer Biosensor