CMOS integrated circuits; integrated circuit testing; low-power electronics; microprocessor chips; 0.13 micron; 1.2 V; CMOS testing; PICA method; S-25 photo-multiplier tube; acquisition time reduction; imaging detector; microprocessor chip; optical waveforms; superco;
机译:使用超导单光子检测器(SSPD)测试超低压VLSI芯片
机译:使用NbN超导单光子探测器进行无创CMOS电路测试
机译:超导单光子探测器使得低压缩放IC的时间分辨发射测试
机译:使用超导单光子检测器(SSPD)测试超低压CMOS微处理器
机译:超快氮化铌超导单光子探测器,用于无创CMOS电路测试。
机译:使用超高纯度单光子源和超导单光子探测器在120 keykm范围内分配量子密钥
机译:使用超低黑暗在72 dB信道损耗上进行量子密钥分配 计数超导单光子探测器