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吴佳骏; 谢生; 毛陆虹; 朱帅宇;
天津大学微电子学院天津市成像与感知微电子技术重点实验室;
天津大学电气自动化与信息工程学院;
光电器件; 单光子雪崩二极管; CMOS工艺; 深n阱; 保护环; 响应度; 光子探测效率;
机译:高光子检测效率单光子雪崩二极管在0.18 mu m标准CMOS工艺中
机译:0.5标准CMOS工艺中单光子雪崩二极管的表征-第2部分:等效电路模型和盖革模式读数
机译:0.5 m标准CMOS工艺中单光子雪崩二极管的特性表征-第1部分:周边击穿抑制
机译:标准CMOS技术中单光子雪崩二极管噪声特性的保护环依赖性
机译:CMOS单光子雪崩二极管和微机械滤光片,用于集成荧光传感。
机译:基于时间相关的CMOS单光子雪崩二极管线传感器的距离分辨拉曼雷达
机译:以常规CMOS工艺制造的用于触发系统的门控单光子雪崩二极管阵列
机译:Geiger模式雪崩光电二极管阵列集成到全数字CmOs电路。
机译:单光子雪崩二极管和单光子雪崩二极管阵列
机译:单光子雪崩二极管和用于操作单光子雪崩二极管的方法
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