linewidth; sidewall; atomic force microscopy (AFM); nanotube probe; image stitching method; image registration;
机译:通过缝合双倾斜图像精确测量亚50 nm线宽
机译:基于数字图像相关性的亚像素图像拼接,用于线宽测量
机译:用于线宽测量的侧壁形状的扫描电子显微镜图像的蒙特卡洛模拟
机译:一种消除线宽测量中侧壁变形的图像拼接方法
机译:使用Log-Demons DIR方法评估MR扩散成像中的涡流失真和EPI失真校正
机译:基于CCD的头部图中的图像缝制伪影及其畸变及其与传感器类型和头部运动的关联:离体研究
机译:基于高斯过程和图像配准的拼接方法用于高精度表面的高动态范围测量
机译:通过选择性侧壁凹陷消除Inalas / InGaas异质结中的台面 - 侧壁漏电