机译:根据意大利佛罗伦萨的IMEKO TC4研讨会探索新的仪器仪表和电气和电子测量方法,2008年9月
机译:IMEKO TC4和TC 19 Symposia和ADC研讨会之后的电气测量和仪表方面的新颖性,罗马尼亚IASI,2007年9月
机译:使用数字同步采样技术的电能质量参数的高精度方法和测量过程
机译:第13届IMEKO TC4研讨会:采样参数对基于DSP方法的电容测量精度的影响
机译:使用低噪声分流电容-电压测量从亚100nm MOSFET去除寄生电容的新方法。
机译:膜电容测量的再探讨:电容值对非等势神经元的测量方法
机译:致力于第18届IMEKO TC4研讨会中提出的选定论文的Acta IMEKO问题介绍