Untersuchung und Validierungsverfahren zur Emissionsmessung von Komponenten in der Absorberhalle gemass CISPR 25

摘要

Das emittierte Feld einer Komponente (EUT) kann in einer Absorberkammer gemessen werden. Zur Nachbildung einer gut leitfahigen Umgebung wird das EUT gemass Anweisung der CISPR 25 auf einem Metalltisch [1, 2] positioniert und in definiertem Abstand die elektrische Feldstarke gemessen und bewertet. Dieser Beitrag untersucht Einflusse von gemass Norm zulassigen Grossenvariationen der leitfahigen Tischplatte, unterschiedliche Ausfuhrungen der Masseanbindung der Tischplatte an die Groundplane und Variationen der Kabelbaumenden auf das Ergebnis der Messung der elektrischen Feldstarke. In der dritten Version der CISPR 25 wird der zu messende Frequenzbereich bis auf 2500 MHz erweitert. Die Angabe von Strahlungsdiagrammen der untersuchten Anordnungen ermoglicht eine Betrachtung der Wahrscheinlichkeit der Messung des Maximums der Emission mit dem CISPR 25 Messverfahren.