Nahfeld-Fernfeld-Umrechnung fur die Bestimmung der Abstrahlung von Leiterplatten basierend auf verbesserten Genetischen Algorithmen

摘要

Zur Einschatzung der elektromagnetischen Vertraglichkeit von Geraten, z.B. zum Nachweis der Einhaltung einschlagiger Normen, ist oft die Kenntnis der elektrischen Feldstarke im Fernfeld notwendig. Messungen im Nahfeld sind jedoch gegenuber Fernfeldmessungen weniger aufwandig und konnen ohne teure Messumgebung, wie z.B. Freifeldmessplatzen oder Absorberhallen, durchgefuhrt werden. Der vorliegende Beitrag beschreibt ein auf Genetischen Algorithmen basierendes Verfahren, magnetische Nahfeldstarken auf elektrische Fernfeldstarken umzurechnen. Dazu wird zunachst das Magnetfeld an ausgewahlten Beobachtungspunkten im Nahfeld bestimmt, dann werden elektrische und magnetische Dipolanordnungen gesucht, die das Nahfeld moglichst gut beschreiben. Diese Dipolanordnungen werden schliesslich als Quellen fur das gesuchte Fernfeld benutzt.