机译:用FIB制备金属材料TEM样品时FIB引起的损伤的TEM研究
机译:利用聚焦离子束(FIB)稀化制备的阶梯状楔形样品在透射电子显微镜(TEM)中确定Cliff-Lorimer因子的实验方法
机译:聚焦离子束(FIB)技术的发展,以最小化透射电子显微镜(TEM)中FIB标本的能量色散X射线光谱(EDS)期间的X射线荧光
机译:减少FIB制备的TEM样品中离子束引起的损伤的方法
机译:TEM样品制备过程中硅中聚焦离子束损伤的计算和实验量化。
机译:用于盒式低温TEM的低温FIB样品制备
机译:制作新型旋转样品支架,以消除FIB制备的TEM标本中的“窗帘效果”