細管に相変化マイクロカプセル懸濁液を流す液冷方式では，相変化潜熱を利用することで，電子機器の温度上昇を低減することが可能である．これまでに，ERTトモグラフィーを使ってカプセルの分散状況が可視化され，定性的な知見が得られた．しかし，管直径および粒子直径が小さいため，詳細な分布状況や，カプセル内部での固液相変化率等は不明のままである．このような情報を取得できるシミュレーションの実施が望まれている．これまでの研究では，細管内を流れる懸濁液内の粒子分散状況をシミュレーションするための基礎プログラムを開発し，その基本的な性能を調査した．そこでは，DEM（Discrete Element Method）によって粒子の運動を捉えた．粒子の詳細な運動を知ることは可能となったが，計算負荷が大きく，粒子濃度の高い場合への適用に課題が残った．本研究では，粒子数密度の高い場合にも，比較的低い負荷で計算することを目指し，分散媒および分散質の運動を連続体として扱う二流体モデルでのシミュレーションを実施する．DEM法および二流体モデルの実用性を検討する．
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