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Reliability assessment for The Polymer Stud Grid Array (PSGA~(TM)) Package

机译:聚合物螺柱栅格阵列的可靠性评估(PSGA〜(TM))包装

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摘要

The Polymer Stud Grid Array (PSGA~(TM)) is an innovative package and enters the market to fulfil the demands of the ongoing miniaturisation combined with cost reduction. In this paper, a full description of the qualification results for this new package technology is given. This qualification includes the determination of the thermal behaviour, the high frequency electrical characterisation and the first and second level reliability. Both experimental testing as well as the use of simulation techniques result in an optimal design for this PSGA.
机译:聚合物螺柱栅格阵列(PSGA〜(TM))是一种创新的封装,并进入市场,以满足持续的小型化的需求与成本减少相结合。在本文中,给出了这种新包技术的资格结果的完整描述。该资格包括确定热行为,高频电学表征和第一和第二级可靠性。实验测试以及使用仿真技术的使用导致该PSGA的最佳设计。

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