Temperature measurement; Scanning electron microscopy; Correlation; Lithography; Lighting; Resists; Standards;
机译:使用原子力显微镜成像的掺硼金刚石薄膜的表面粗糙度和临界指数分析:自相关和功率谱密度函数的应用
机译:基于卷积操作的BOC调制的自相关函数和功率谱密度的表达
机译:设置适当的功率谱密度和自相关分析,以进行材料和过程表征
机译:使用功率谱密度分析(PSD)进行高级构图工艺的边缘粗糙度表征
机译:下一代光刻的线边缘粗糙度研究:碳纳米管在数百纳米图案测量中的应用。
机译:硬件实现的自相关技术用于估计处理多普勒风激光雷达系统信号的功率谱密度
机译:表面粗糙度散斑图谱光谱依赖性的自相关分析
机译:二极管变频器的输出自相关函数和功率谱密度