机译:沟槽隔离对块状非外延CMOS中闩锁抗扰性的影响
机译:在闩锁测试结构和以CMOS技术处理的I / O单元中发生外部瞬态闩锁现象期间,载流子等离子体的瞬态干涉图映射
机译:关于CMOS / BiCMOS结构中闩锁触发电流的温度依赖性的讨论
机译:消除在Atmel Atmx150RHA Rad-Hard CMOS 150nm基于Cell的AsiC系列中的单一事件锁存
机译:低功耗高速低偏移完全动态CMOS锁存器
机译:具有嵌入式PMOSFET的鲁棒和锁定的免疫LVTSCR器件用于28 nm CMOS过程中的ESD保护
机译:防止散装CMOS工艺中辐射引起的闩锁的设计技术
机译:大容量CmOs集成电路中闩锁的建模与消除