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Overview of IEEE P1450.6.2 Standard; Creating CTL Model For Memory Test and Repair

机译:IEEE P1450.6.2标准概述;创建用于内存测试和修复的CTL模型

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摘要

A new standard, P1450.6.2 is being developed to provide the syntax and semantics to support the memory test and repair requirements. The poster provides an introduction to the proposed standard. The syntax of the main CTL blocks is presented to demonstrate the effectiveness in addressing complicated memory testing requirements. An elaborate example is used to highlight the advantages of the memory CTL model.
机译:正在开发新的标准P1450.6.2,以提供语法和语义来支持内存测试和修复要求。海报提供了对拟议标准的介绍。提出了主要CTL块的语法,以证明在解决复杂的内存测试要求方面的有效性。使用一个详尽的示例来突出显示内存CTL模型的优点。

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