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Overview of IEEE P1450.6.2 Standard; Creating CTL Model For Memory Test and Repair

机译:IEEE P1450.6.2标准概述;创建CTL模型进行内存测试和修复

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摘要

A new standard, P1450.6.2 is being developed to provide the syntax and semantics to support the memory test and repair requirements. The poster provides an introduction to the proposed standard. The syntax of the main CTL blocks is presented to demonstrate the effectiveness in addressing complicated memory testing requirements. An elaborate example is used to highlight the advantages of the memory CTL model.
机译:正在开发出一种新的标准P1450.6.2,以提供语法和语义来支持内存测试和修复要求。海报提供了拟议标准的介绍。提出了主CTL块的语法,以展示解决复杂内存测试要求的有效性。详细示例用于突出存储器CTL模型的优点。

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