基于IEEE 1500标准的IP核测试结构及测试方法

摘要

基于IEEE 1500标准的IP核测试结构及测试方法，涉及IP核测试结构和方法，解决了现有的IP核测试技术耗时长、测试效率低的问题，过程如下：一、开启配置信号生成模块，生成测试所需的配置信号；二、开启命令总线分配模块，在配置信号的作用下将命令总线与被测IP核的命令信号线相连。三、开启测试指令生成模块，在上层控制指令的作用下，给被测IP核提供控制信号和编码后的测试指令。四、开启数据总线分配模块，配置测试数据传输的通路。五、开启相应的测试数据生成模块，给被测IP核提供测试激励。六、使被测IP核正常工作，捕获IP核的测试响应。本发明通过在FPGA内增加测试结构实现了IP核的测试，设计简单而灵活。