掌桥科研
一站式科研服务平台
科技查新
收录引用
专题文献检索
外文数据库(机构版)
更多产品
首页
成为会员
我要充值
退出
我的积分:
中文会员
开通
中文文献批量获取
外文会员
开通
外文文献批量获取
我的订单
会员中心
我的包量
我的余额
登录/注册
文献导航
中文期刊
>
中文会议
>
中文学位
>
中国专利
>
外文期刊
>
外文会议
>
外文学位
>
外国专利
>
外文OA文献
>
外文科技报告
>
中文图书
>
外文图书
>
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
工业技术
基础科学
医药卫生
农业科学
教科文艺
经济财政
社会科学
哲学政法
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
自然科学总论
数学、物理、化学、力学
天文学、地球科学
生物科技
医学、药学、卫生
航空航天、军事
农林牧渔
机械、仪表工业
化工、能源
冶金矿业
电子学、通信
计算机、自动化
土木、建筑、水利
交通运输
轻工业技术
材料科学
电工技术
一般工业技术
环境科学、安全科学
图书馆学、情报学
社会科学
其他
美国国防部AD报告
美国能源部DE报告
美国航空航天局NASA报告
美国商务部PB报告
外军国防科技报告
美国国防部
美国参联会主席指示
美国海军
美国空军
美国陆军
美国海军陆战队
美国国防技术信息中心(DTIC)
美军标
美国航空航天局(NASA)
战略与国际研究中心
美国国土安全数字图书馆
美国科学研究出版社
兰德公司
美国政府问责局
香港科技大学图书馆
美国海军研究生院图书馆
OALIB数据库
在线学术档案数据库
数字空间系统
剑桥大学机构知识库
欧洲核子研究中心机构库
美国密西根大学论文库
美国政府出版局(GPO)
加利福尼亚大学数字图书馆
美国国家学术出版社
美国国防大学出版社
美国能源部文献库
美国国防高级研究计划局
美国陆军协会
美国陆军研究实验室
英国空军
美国国家科学基金会
美国战略与国际研究中心-导弹威胁网
美国科学与国际安全研究所
法国国际关系战略研究院
法国国际关系研究所
国际宇航联合会
美国防务日报
国会研究处
美国海运司令部
北约
盟军快速反应部队
北约浅水行动卓越中心
北约盟军地面部队司令部
北约通信信息局
北约稳定政策卓越中心
美国国会研究服务处
美国国防预算办公室
美国陆军技术手册
一般OA
科技期刊论文
科技会议论文
图书
科技报告
科技专著
标准
其它
美国卫生研究院文献
分子生物学
神经科学
药学
外科
临床神经病学
肿瘤学
细胞生物学
遗传学
公共卫生&环境&职业病
应用微生物学
全科医学
免疫学
动物学
精神病学
兽医学
心血管
放射&核医学&医学影像学
儿科
医学进展
微生物学
护理学
生物学
牙科&口腔外科
毒理学
生理学
医院管理
妇产科学
病理学
生化技术
胃肠&肝脏病学
运动科学
心理学
营养学
血液学
泌尿科学&肾病学
生物医学工程
感染病
生物物理学
矫形
外周血管病
药物化学
皮肤病学
康复学
眼科学
行为科学
呼吸学
进化生物学
老年医学
耳鼻喉科学
发育生物学
寄生虫学
病毒学
医学实验室检查技术
生殖生物学
风湿病学
麻醉学
危重病护理
生物材料
移植
医学情报
其他学科
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
人类生活必需品
作业;运输
化学;冶金
纺织;造纸
固定建筑物
机械工程;照明;加热;武器;爆破
物理
电学
马克思主义、列宁主义、毛泽东思想、邓小平理论
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
文化、科学、教育、体育
语言、文字
文学
艺术
历史、地理
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
生物科学
医药、卫生
农业科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
综合性图书
主题
主题
题名
作者
关键词
摘要
高级搜索 >
外文期刊
外文会议
外文学位
外国专利
外文图书
外文OA文献
中文期刊
中文会议
中文学位
中国专利
中文图书
外文科技报告
清除
历史搜索
清空历史
首页
>
外文会议
>
Test Conference (ITC), 2008 IEEE International
Test Conference (ITC), 2008 IEEE International
召开年:
召开地:
出版时间:
-
会议文集:
-
会议论文
热门论文
全部论文
全选(
0
)
清除
导出
1.
Capture and Shift Toggle Reduction (CASTR) ATPG to Minimize Peak Power Supply Noise
机译:
捕获和移位切换降低(CASTR)ATPG,可最大程度地降低峰值电源噪声
作者:
Lin Hsiu-Ting
;
Wen Jen-Yang
;
Li James
;
Chang Ming-Tung
;
Tsai Min-Hsiu
;
Huang Sheng-Chih
;
Tseng Chih-Mou
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
2.
Overview of IEEE P1450.6.2 Standard; Creating CTL Model For Memory Test and Repair
机译:
IEEE P1450.6.2标准概述;创建用于内存测试和修复的CTL模型
作者:
IEEE P1450.6.2 Working Group
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
3.
VLSI Test Exercise Courses for Students in EE Department
机译:
EE系学生的VLSI测试练习课程
作者:
Komatsu Satoshi
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
4.
IEEE P1581 drastically simplifies connectivity test for memory devices
机译:
IEEE P1581大大简化了存储设备的连接测试
作者:
Ehrenberg Heiko
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
5.
An Efficient Secure Scan Design for an SoC Embedding AES Core
机译:
嵌入式AES内核的SoC的高效安全扫描设计
作者:
Song Jaehoon
;
Jung Taejin
;
Lee Junseop
;
Jeong Hyeran
;
Kim Byeongjin
;
Park Sungju
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
6.
NoC Reconfiguration for Utilizing the Largest Fault-free Connected Sub-structure
机译:
使用最大的无故障连接子结构进行NoC重新配置
作者:
Alaghi Armin
;
Sedghi Mahshid
;
Karimi Naghmeh
;
Navabi Zainalabedin
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
7.
Is It Cost-Effective to Achieve Very High Fault Coverage for Testing Homogeneous SoCs with Core-Level Redundancy?
机译:
在具有内核级冗余的同质SoC上实现很高的故障覆盖率是否具有成本效益?
作者:
Huang Lin
;
Xu Qiang
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
8.
Parametric Testing of Optical Interfaces
机译:
光接口的参数测试
作者:
Achkir Brice
;
Zivny Pavel
;
Eklow Bill
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
9.
IEEE 1500 Compatible Secure Test Wrapper For Embedded IP Cores
机译:
嵌入式IP内核的IEEE 1500兼容安全测试包装器
作者:
Chiu Geng-Ming
;
Li James Chien-Mo
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
10.
Power-Aware DFT - Do we really need it?
机译:
Power-Aware DFT-我们真的需要它吗?
作者:
Mukherjee Nilanjan
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
关键词:
IR drop;
Power aware;
capture power;
functional mode;
scan-test mode;
shift power;
voltage droop;
11.
Test-Access Solutions for Three-Dimensional SOCs
机译:
三维SOC的测试访问解决方案
作者:
Wu Xiaoxia
;
Chen Yibo
;
Chakrabarty Krishnendu
;
Xie Yuan
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
12.
Wireless Test Structure for Integrated Systems
机译:
集成系统的无线测试结构
作者:
Noun Ziad
;
Cauvet Philippe
;
Flottes Marie-Lise
;
Andreu David
;
Bernard Serge
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
13.
Power Distribution Failure Analysis Using Transition-Delay Fault Patterns
机译:
使用过渡延迟故障模式进行配电故障分析
作者:
Ma Junxia
;
Lee Jeremy
;
Tehranipoor Mohammad
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
14.
SOC Test Optimization with Compression-Technique Selection
机译:
采用压缩技术选择的SOC测试优化
作者:
Larsson Anders
;
Zhang Xin
;
Larsson Erik
;
Chakrabarty Krishnendu
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
15.
Diagnosis of Mask-Effect Multiple Timing Faults in Scan Chains
机译:
扫描链中的掩码效应多个定时故障的诊断
作者:
Ye Jing
;
Wang Fei
;
Hu Yu
;
Li Xiaowei
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
16.
Diagnosis of Logic-to-chain Bridging Faults
机译:
逻辑链桥接故障的诊断
作者:
Liu Wei-Chih
;
Tsai Wei-Lin
;
Lin Hsiu-Ting
;
Li James Chien-Mo
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
17.
Will Test Compression Run Out of Gas?
机译:
测试压缩是否会用尽气体?
作者:
Goel Sandeep Kumar
;
Marinissen Erik Jan
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
18.
Yield Learning: Everybody Gains, But Who Picks up the Tab?
机译:
收益学习:人人都有收获,但谁来承担责任?
作者:
Burlison Phil
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
19.
Analog on6; Mixed-Signal are Key for Test Development Engineering Program
机译:
模拟开启6;混合信号是测试开发工程计划的关键
作者:
Schmitz Tamara I.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
20.
FPGA Time Measurement Module: Preliminary Results
机译:
FPGA时间测量模块:初步结果
作者:
Bowhers William J.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
21.
Platform Independent Test Access Port Architecture
机译:
平台无关的测试访问端口架构
作者:
Margulis Arie
;
Akselrod Dimitry
;
Wood Tim
;
Metsis Sophocles
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
22.
Finding Power/Ground Defects on Connectors - Case Study
机译:
查找连接器上的电源/接地缺陷-案例研究
作者:
Hird Steve
;
Weng Reggie
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
23.
Jitter and Signal Integrity Verification for Synchronous and Asynchronous I/Os at Multiple to 10 GHz/Gbps
机译:
用于多个至10 GHz / Gbps的同步和异步I / O的抖动和信号完整性验证
作者:
Li Mike P.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
24.
Direct Cell-Stability Test Techniques for an SRAM Macro with Asymmetric Cell-Bias-Voltage Modulation
机译:
具有非对称单元偏置电压调制的SRAM宏的直接单元稳定性测试技术
作者:
Katayama A.
;
Yabe T.
;
Hirabayashi O.
;
Takeyama Y.
;
Kushida K.
;
Sasaki T.
;
Otsuka N.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
25.
Functional Test and Speed/Power Sorting of the IBM POWER6 and Z10 Processors
机译:
IBM POWER6和Z10处理器的功能测试和速度/功率分类
作者:
Pham Tung N.
;
Clougherty Frances
;
Salem Gerard
;
Crafts James M.
;
Tetzloff Jon
;
Moczygemba Pamela
;
Skergan Timothy M.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
26.
Test Generation for Interconnect Opens
机译:
互连打开的测试生成
作者:
Lin Xijiang
;
Rajski Janusz
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
27.
Scan Based Testing of Dual/Multi Core Processors for Small Delay Defects
机译:
对双/多核处理器进行基于扫描的测试,以检查是否存在较小的延迟缺陷
作者:
Singh Adit D.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
28.
An Automatic Post Silicon Clock Tuning System for Improving System Performance based on Tester Measurements
机译:
基于测试仪测量的自动后硅时钟调谐系统,用于提高系统性能
作者:
Nagaraj Kelageri
;
Kundu Sandip
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
29.
Observations of Supply-Voltage-Noise Dispersion in Sub-nsec
机译:
亚纳秒内电源电压噪声色散的观测
作者:
Takeuchi Kan
;
Tanaka Genichi
;
Matsushita Hiroaki
;
Yoshizumi Kenichi
;
Katsuki Yusaku
;
Sato Takao
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
30.
Linearity Test Time Reduction for Analog-to-Digital Converters Using the Kalman Filter with Experimental Parameter Estimation
机译:
使用带有实验参数估计的卡尔曼滤波器减少模数转换器的线性测试时间
作者:
Le Jin
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
31.
The Economics of Harm Prevention through Design for Testability
机译:
通过可测试性设计预防危害的经济学
作者:
Ungar Louis Y.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
32.
Failing Frequency Signature Analysis
机译:
故障频率签名分析
作者:
Lee Jaekwang
;
McCluskey Edward J.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
33.
Statistical Yield Modeling for Sub-wavelength Lithography
机译:
亚波长光刻的统计产量建模
作者:
Sreedhar Aswin
;
Kundu Sandip
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
34.
Low cost testing of multi-GBit device pins with ATE assisted loopback instrument
机译:
使用ATE辅助环回仪器对多GBit设备引脚进行低成本测试
作者:
Fritzsche William A
;
Haque Asim E.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
35.
System JTAG Initiative Group Advancements
机译:
系统JTAG计划团体进步
作者:
Van Treuren Bradford G.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
36.
Embedded Testing in an In-Circuit Test Environment
机译:
在线测试环境中的嵌入式测试
作者:
Malian John
;
Eklow Bill
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
37.
Test Quality Improvement with Timing-aware ATPG: Screening small delay defect case study
机译:
使用时序感知型ATPG改善测试质量:筛选小延迟缺陷案例研究
作者:
Chang Che-Jen Jerry
;
Kobayashi Takeo
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
38.
Low Power Test
机译:
低功耗测试
作者:
Bahl Swapnil
;
Sarkar Rajiv
;
Garg Akhil
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
39.
Improving the Accuracy of Test Compaction through Adaptive Test Update
机译:
通过自适应测试更新提高测试压缩的准确性
作者:
Biswas Sounil
;
Blanton R. D.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
40.
Solder Bead on High Density Interconnect Printed Circuit Board
机译:
高密度互连印刷电路板上的焊珠
作者:
Chu Brandon
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
41.
The Limits of Compression
机译:
压缩极限
作者:
Williams T. W.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
关键词:
Scan compression;
combinational / sequential compression;
compression bounds;
design for compression;
entropy;
42.
SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the Rescue?
机译:
SoC良率提高:需要冗余架构吗?
作者:
Vial J.
;
Bosio A.
;
Girard P.
;
Landrault C.
;
Pravossoudovitch S.
;
Virazel A.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
43.
Hardware Overhead Reduction for Memory BIST
机译:
减少内存BIST的硬件开销
作者:
Arai Masayuki
;
Iwasaki Kazuhiko
;
Nakao Michinobu
;
Suzuki Iwao
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
44.
Jitters in high performance microprocessors
机译:
高性能微处理器中的抖动
作者:
Mak T.M.
会议名称:
《Test Conference (ITC), 2008 IEEE International》
意见反馈
回到顶部
回到首页