首页> 外文会议>Electronic Technology Directions to the Year 2000, 1995. Proceedings. >A new approach to the measurement of surface roughness using thepulse-jet capacitance method
【24h】

A new approach to the measurement of surface roughness using thepulse-jet capacitance method

机译:一种使用表面粗糙度测量表面粗糙度的新方法脉冲喷射电容法

获取原文

摘要

In-process monitoring of surface roughness has assumedconsiderable significance in present day manufacturing due to reducedtolerances and better understanding of the functional behaviour ofsurfaces. The paper deals with the pulse jet capacitance system fornoncontact sensing of the surface finish. It concentrates on theprototype development and testing for this state of the art techniqueuseful for research or industrial applications
机译:假设表面粗糙度的过程监测 由于减少而导致当今制造业的相当意义 公差和更好地了解功能行为 表面。本文涉及脉冲射流电容系统 表面光洁度的非接触感测。它专注于 原型开发和测试本领域技术 适用于研究或工业应用

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号