首页> 中国专利> 一种基于色散共焦光谱法的表面粗糙度测量系统及其方法

一种基于色散共焦光谱法的表面粗糙度测量系统及其方法

摘要

本发明公开了一种基于色散共焦光谱法的表面粗糙度测量系统及其方法,其特征是包括:横向位移控制单元、信号发生与信号处理单元和光栅测量单元;横向位移控制单元包括:音圈电机定子、音圈电机动子、弹簧、音圈电机动子定位块、色散共焦测头夹持装置、色散共焦测头、调整旋钮、平台底板、固定板、滑块和导轨;信号发生与信号处理单元包括:光纤、光纤耦合器、宽光谱光源、光谱仪、光栅采集卡、音圈电机电源;光栅测量单元包括:光栅读数头和光栅主尺。本发明能实现多种场合快速高精度的表面粗糙度测量,从而提高测量精度和效率。

著录项

  • 公开/公告号CN106767573A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN201710183101.0

  • 发明设计人 卢荣胜;张紫龙;

    申请日2017-03-24

  • 分类号G01B11/30;

  • 代理机构安徽省合肥新安专利代理有限责任公司;

  • 代理人陆丽莉

  • 地址 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号

  • 入库时间 2023-06-19 02:20:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/30 申请日:20170324

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号