Circuit faults; Built-in self-test; Random access memory; Failure analysis; Discrete Fourier transforms; Integrated circuits; Microscopy;
机译:微处理器上功能上可测试的路径延迟故障
机译:用于检测变压器绕组故障的基于微处理器的高速继电器的设计,实现和测试
机译:通过动态编程确定故障隔离诊断测试的顺序
机译:了解微处理器动态故障隔离的测试
机译:动态系统中突发故障的统计检测和定性故障隔离组合方案。
机译:利用人类研究的知识来增进对竞赛理论和竞赛动态的理解
机译:用指令集测试微处理器路径延迟故障
机译:微处理器及其支持设备的测试生成和故障隔离