RTN; Long-term fluctuation; Within Device Fluctuation (WDF); As-grown Traps (AT);
机译:深度缩放pMOSFET的负偏置温度不稳定性寿命预测的差异分析方法
机译:负偏置温度应力下深尺度pMOSFET中空穴发射路径的转换
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机译:RTN容差保护带设计,用于更深的纳米尺度SRAM筛选测试:基于长尾分布的EM高斯混合近似模型
机译:一种评估可再生能源系统动力学与负载波动之间相互作用的方法。
机译:通过去趋势波动分析评估的自主神经阻滞过程中血压和心率的比例指数
机译:在深度缩放纳米PMOSFET上评估RTN /波动的快速和测试证明方法
机译:评估流动波动对流鱼影响的方法学评价。最终技术报告。