metrology; nanometrology; SEM; CD-SEM; system characterization; pseudo-random; power spectral density; contrast transfer function;
机译:超过1.5 Tbit / in〜2的位图媒体的制作和表征
机译:通过自组装单层(sam)工艺在60nm沟槽图案化的Sio_2衬底上制备Cu种子层并进行表征
机译:石墨烯氧化物和亲水性聚合物石墨烯氧化物复合膜在死端流动系统中的制造,表征和测试
机译:1.5 nm的测试图案制造,用于表征计量系统
机译:向列型液晶中的人造微观结构,是通过图案化的光对准和受控限制而产生的:仪器,制造和表征。
机译:用于生物学测试的纯单轴微加载系统的设计制造和表征
机译:风力涡轮机试验台新扭矩测量系统的计量表征近似
机译:先进飞机光纤控制系统集成。飞行控制系统的电光和传感器制造,集成和环境测试:实验室测试结果