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An investigation of program disturb characteristics and data pattern effect in 128G 3D NAND flash memories

机译:128G 3D NAND闪存中程序干扰特性和数据模式效应的研究

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摘要

This work investigates program disturb characteristics on cells closely packed in three-dimensional (3D) NAND flash memories. Using firmware accessing 3D NAND chips, experimental data reveal unique behaviors on the cells susceptible to program disturb. These observations provide guidelines for future optimization in data arrangement and array operations in 3D NAND arrays.
机译:这项工作调查了在三维(3D)NAND闪存中紧密包装的细胞上的程序干扰特征。使用固件访问3D NAND芯片,实验数据会显示易受编程干扰的细胞上的独特行为。这些观察结果提供了在3D NAND阵列中的数据排列和阵列操作中的未来优化指导方针。

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