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【24h】

Surface activated bonding of Nb-Nb for surperconducting device interconnect

机译:用于行驶装置的NB-NB的表面活化键合互连

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摘要

Deposited Nb wafers were bonded directly by surface activated bonding method at room temperature. In this research, several criteria for bonding has been investigated: Surface roughness should be less then Ra = 1.0 nm, and etching time is 50 s or more.
机译:沉积的Nb晶片通过在室温下通过表面活性粘合法直接键合。 在本研究中,已经研究了粘合的若干标准:表面粗糙度应小于Ra = 1.0nm,并且蚀刻时间为50秒或更高。

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